•DAK-R是一种创新的非破坏性介电测量解决方案，专为薄型低损耗基材（厚度0.05–3 mm）设计。
•基于先进的分体式谐振腔技术（SCR），与传统谐振腔不同，DAK-R通过创新腔体设计和先进求解器，抑制了不必要的谐振，扩展了介电常数测量范围，
并实现了同时在10 GHz、17 GHz、26 GHz、35 GHz和45 GHz频率下的宽带精确测量。
•符合IPC测试方法TM-650 2.5.5.13，DAK-R通过分析共振频率和品质因数（Q），确定样品的相对介电常数和损耗角正切。
频率范围 | 同时测量 10、17、26、35、45GHz |
空腔直径&共振腔长度 | 42mm & 30mm |
待测物要求 | 片状固体：厚度0.05-3mm（可堆叠） 尺寸：≥60*60mm |
量测精度与范围 | εr: ±1%， tan δ<0.0001 εr: 1–100 tan δ: 0.00001 - 0.01 |
校准依据 | ILAC-MRA（ISO/IEC 17025 by Swiss Accreditation Service(SCS 108）) |
应用场景 | 低损耗材质，电子产品外壳、电子元件介电材料、涂层、基板 |
